涡流探伤时影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμeff 式中：η--填充系数；μr--相对磁导率；μeff--有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。涡流探伤电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/(2πμσα2)，α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。
涡流探伤磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。涡流探伤试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径(或半径)描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率(分析参见电导率分析)，而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。
涡流探伤缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，涡流探伤通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。
涡流探伤时，标准试件的用途及制作注意事项各有三点要注意，首先我们来分析标准试件的用途：
①调节和检验设备：涡流探伤试验前，使用对比试件调节试验参数，确定试验状态；试验过程中，使用对比试件检验设备工作是否政党可靠。
②确定质量验收标准：试验中，根据对比试件上的人工缺陷的指示信号为基准，确定受检试件是否合格。
③检查设备性能：涡流探伤主要性能有灵敏度、分辨力、末端效应长度、人工缺陷的重要性等。
分析完标准试件的用途接下来我们来关注标准试件的制作注意事项是哪三点：
①材料选择：涡流探伤应使材料片号、热处理状态、尺寸、形状、加工程序、表面光洁度等应与受检试件相同。
②人工缺陷加工：制作时不允许材质发生变化，不允许留有残余应力；制作完毕，人工缺陷内不允许残存金属粉末；为防止末端效应，涡流探伤应使人工缺陷与末端相距200mm以上；人工缺陷有两个以上时，为防止相互干扰，间距也应在200mm以上。
③人工缺陷的宽度及深度均应测量。
一次完整的涡流探伤不仅仅只是一个过程还需要一份完整的报告，所以涡流探伤报告应包括的主要内容：A．试验日期 B．试验名称 C．试件名称、数量及简单示意图 D．试验装置 E．试验线圈 F．试验条件(频率、灵敏度、相位、滤波抑制、磁饱和电流等) G．标准试件和判废标准 H．涡流探伤试验结果及缺陷简单示意图 I．试验人员姓名及技术资格。
